乘著全球電動車需求的熱潮，廣受討論的第三代半導體碳化矽(SiC)，以更快速的開關獲得更高的效率、更小的外型尺寸獲得更高的功率密度；產品上市前，透過EMI除錯，降低成本及增加電源設計的可靠性，進一步討論雙脈衝量測方法如何協助寬能隙半導體的設計及驗證。
本系列研討會亦針對SMPS中的回饋原理、電源設計中的控制迴路、於線性時考量增益及相位等議題探討，並了解如何選擇注入點，與電力電子應用中，如何選擇高壓差分探棒的關鍵特性？佈線和連接器對功率測量的影響為何？同時電壓探棒的優缺點，也將一併概述。
關於EMI除錯及故障排除，我們將提供以頻譜分析儀及示波器進行EMI除錯的要訣，同時由於而電源完整性於電力電子中至關重要，此系列課程將協助使用者了解如何使用影響準確性的示波器，及選用低雜訊及電源軌探棒的小技巧。
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